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코스코홀딩스

반도체 후공정 부문

반도체 후공정 부문

Test Service & Test Solutions

Teat services

  

코스코인더스트리는 대만 반도체 후공정 기업을 100% 자기 자본으로 인수 합병하여 경쟁력 있는 Wafer Probe Test Service를 제공하고 있으며, 용역 외 반도체 후공정 및 테스트에 필요한 장비 생산 시설을 2025년 상반기 가동을 목표로 추진하고 있습니다.

 

 

Probe Test

- As per Customer's Device Specifications, Parameters, Vectors and Test Programs

- 6, 8 & 12" Wafers and Bumped Wagers

- Temperature Range : -55℃ to +150℃

- Class 1K Particle Environment

 

Final Test

- Wide range of IC packages such as PDIP, PLCC, SOIC, QFP, LQFP, TQFP, QFN, MLF, BGA, LGA, SIP, FLIP CHIP, POP, PLP and others

- Pick & Place and Turret Handlers availble

- Temperature Range :  55℃ to +150℃

- Class 10K Particle Environment

 

Backend

- Lead, Ball and Package Inspections

- Marking Inspections

- Bake Dry

- Tray and Tape & Reel Packings

- Shipments to Customer Sites or Customer's Customer Locations

 

Trunkey Service

대만. 미국. 한국에 있는 Fab Foundry 및 Package 회사들과 긴밀하게 협력하여 원활하고 효울적인 Trunkey Service를 제공합니다.

                                                                                         

 

 

Test Solutions

 

Design-to-Test Solutions

고객의 Design-to-Test, Time-to-Maket, Time-to-Volume Production 및 Test Cost를 줄이는 최신의 Solution을 제공합니다.

 

Test Development

- Test Spec Verification

- Test Program Development

- Product Characterization

- Product / Test Correlation

 

Test Vector Conversion

ASCII, Verilog VCD, WGL, STIL  및 기타 다른 Test Platform의 Test Program으로부터 코스코인더스트리가 보유하고 있는 각종 Test Platform으로의 Test Vector Conversion을 제공합니다.

 

Probe Card and Load Board Design

- Probe Card 설계 및 공급

- Losd Board 설계 및 공급

- Test Socket 설계 및 공급

- Handler Change-Over-Kit 설계 및 공급

 

Test Data Management

Test Data Feedback System을 구축해 두고 있으며 각 고객별 Test Data는 최소 3년간 보관되고 있습니다. 또한 Test Data는 FTP를 통해 고객에게 제공되기도 하고 고객은 부여받은 Username과 Password로 Log on하여 코스코인더스트리의 Data Server에 직접 Access 할 수 있습니다.

 

Test Status and Yield Monitor

365일 24시간 On-Line Monitoring System(OMS)을 가동하고 있으며 고객께서 부여받은 Username과 Password로 Log on 하여 Test Status 및  Test Yield 등을 Monitor 할 수 있습니다.

 

Logic, Mixed Signal & SOC

MCU, Touch Controller, Timing Controller, ISP, DTV Chipset, Application Processor, Automotive 및 Mobile 등과 같은 Logic, Mixed Signal 및 SOC Device 들을 효율적으로 Test 하기 위한 High Performance Tester들을 보유하고 있습니다.

 

Analog & Mixed Signal 

Audio, Video, PMIC, Automotive 및 Mobile 등과 같은 Analog 및 Mixed Signal Device들을 효율적으로 Test 하기 위한 High Performance Tester들을 보유하고 있습니다.

 

 

 

 

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